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fischer xdlm 237x射線熒光鍍層測厚儀 有三個型號：XDLM 231具有平面支撐臺，XDLM 232具有手動操作的X / Y臺。 XDLM 237配備了一個電動X / Y平臺，當打開防護罩時，該平臺會自動移到裝載位置。

FISCHERSCOPE XUL XYm菲希爾熒光鍍層分析儀 是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結構緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無損測量鍍層厚度和成分分析。比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。

X射線熒光鍍層測厚儀helmut-fischer xan500 FISCHERSCOPE® X-RAY XAN500是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及進行材料分析。

德國菲希爾鍍層測厚儀xdv-μ-pcb XDV-μ型系列儀器是專為在很微小結構上進行高精度鍍層厚度測星和材料分析而設計的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細管透鏡, 光斑直徑（ FWHM ）可達10至60μm。

菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 是一款高性能的能量色散型 X 射線熒光（EDXRF）鍍層測厚及材料分析儀，專為工業質量控制、材料成分分析和溶液檢測設計。

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菲希爾涂層非接觸X射線測厚儀 菲希爾涂層非接觸 X 射線測厚儀基于 X 射線與物質的相互作用原理。當 X 射線照射到被測物體表面時，一部分 X 射線會被涂層吸收和散射，另一部分則會穿透涂層到達基體。通過測量穿透涂層的 X 射線強度，并與已知厚度的標準樣品進行對比，就可以精確計算出涂層的厚度。

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