FISCHER DualScope FMP100磁感應法涂鍍層測厚儀?現貨代理 FMP100涂層測厚儀是菲希爾推出一款多功能的涂層測厚儀，FMP100涂層測厚儀是中英文系統可以互換，明亮彩LCD顯示器，觸摸屏，帶USB接口。

德國菲希爾廠家推薦DELTASCOPE FMP10高精度測厚儀 德國菲希爾DELTASCOPE FMP10涂層測厚儀是一種超小型測量儀，它采用了磁性測厚法，能快速、無損傷、精頦地進行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測量。DELTASCOPE FMP10涂層測厚儀可廣泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。

IsoScope FMP30渦流法測厚儀德國Fischer授權代理 經濟耐用的ISOSCPOPE FMP30膜厚儀是一款擁有獨立的電渦流儀器，適合于需求配置儲存測量數據，輸出和打印功能的使用者。

菲希爾ISOSCOPE FMP10渦流法涂層測厚儀熱銷供應 由篤摯儀器代理的菲希爾ISOSCOPE FMP10膜厚儀體現了全新FMP系列手持式涂層測厚儀的測量技術。

德國雙功能測厚儀DualScope FMP40原廠代理 DUALSCOPE FMP40容許操縱者依據分歧的利用環境調換大批可供抉擇的Fischer智慧型丈量探頭。這類無約束的交換探頭的才能容許操縱者僅僅經由過程簡略的探頭調換就能適應各種的丈量環境。

Fischer DualScope FMP20進口銷售 FMP20涂層測厚儀允許操作者根據不同的應用情況更換大量可供選擇的Fischer智慧型測量探頭。這種無約束的互換探頭的能力允許操作者僅僅通過簡單的探頭更換就能適應各種的測量情況。

Fischer德國原產銷售DualScope MP0R小型測厚儀 HELMUT FISCHER集團是一家受德國和瑞士基金會控股、專業生產和銷售涂鍍層測厚儀 、材料分析儀 、微硬度測試儀和材料測試儀 的性集團公司。集團總部位于德國和瑞士，在德國、美國和英國各建有一個工廠、并設立了一個研究院和一個用戶應用實驗室，在*設有近50個分公司。

德國菲希爾DualScope MP0正規代理 MPO 涂層測厚儀 采用雙功能內置式探頭，無需更換探頭，可自動識別鐵基或非鐵基體材料，并選擇相應的測量方式進行測量。

MP0測厚儀德國進口 產品名稱：手持式涂層測厚儀 型號：DUALSCOPE MP0 品牌：菲希爾 測量方法：0?2000μm（78密耳），鋼或鐵基材（Fe），0?2000μm（78密耳），有色金屬基材（NF） 應用：鋼，鐵，鐵，鐵，鐵（Fe）和有色金屬基材（NF）上的鋅，鉻，銅，油漆，清漆和塑料涂層的鋼或鐵基材（Fe），鋁，銅上涂漆，清漆或塑料涂層 或黃銅 表面：該儀器適用于平滑和粗糙表面的

菲希爾COULOSCOPE CMS2測厚儀原廠正規代理 FISCHER COULOSCOPE CMS2電解測厚儀過電解去除層來測量涂層厚度。特別地，庫侖法可以用于地確定任何種類的基底上的多層。

FISCHER COULOSCOPE CMS2測厚儀原理及方法 FISCHER COULOSCOPE CMS2電解測厚儀過電解去除層來測量涂層厚度。特別地，庫侖法可以用于地確定任何種類的基底上的多層。

菲希爾Dualscope FMP100 Dualscope FMP100為層厚度測量設定了新的標準。它將計算機實驗室儀表的靈活性和性能與緊湊型便攜式儀表的透明度相結合。它配備了和Z強大的探針，由基于Windows CE的簡單和可定制的操作系統管理。

DUALSCOPE FMP40兩用法涂鍍層測厚儀現貨可發 DUALSCOPE FMP40使用電磁感應和渦流兩種測試辦法。儀器能自動地識別被測資料并抉擇得當的測試辦法。

德國菲希爾DUALSCOPE MP0涂層測厚儀發 德國菲希爾DUALSCOPE MP0涂層測厚儀是一款為快速且簡便測量而設計的涂層測厚儀。

菲希爾X射線測厚儀XDL230，菲希爾X射線鍍層測厚儀,FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

手持式涂層測厚儀PhaScope PMP10 Duplex 手持式儀器,用于快速、準確的測量雙層涂層厚度（同時測量鋅和油漆或鋁和油漆

PHASCOPE PMP10 DUPLEX涂層測厚儀 PHASCOPE PMP10 DUPLEX涂層測厚儀手持式設備，用于非破壞性的測量鋼或鐵上的雙面涂層（油漆/鋅）厚度

FISCHERSCOPE MMS 現貨 FISCHERSCOPE MMS 適于涂鍍層厚度測量和材料性能統計。它可用于手動檢測樣品，也可用于過程控制和生產過程的定時檢測。

德國Fischer FischerScope MMS涂鍍層測厚儀現貨代理 由于采用了多種測量方法，MMS 可用于電鍍廠，線路板生產廠，汽車和航空生產廠的多種應用場合。

Couloscope CMS2 STEP測厚儀* 通過電位差測試儀器可以簡便的對鎳鍍層之間的電化學的電位差進行測量。 可以用于測量銅基層、鎳多層涂層和鉻涂層的厚度。