奧林巴斯超聲波探傷儀采用嵌入式計(jì)算機(jī)系統(tǒng)和超大規(guī)模現(xiàn)場(chǎng)可編程集成電路設(shè)計(jì)，具有多顏色的TFT顯示和許多新特點(diǎn)，承襲和改進(jìn)了HY系列超聲波探傷儀所有經(jīng)過(guò)實(shí)踐驗(yàn)證的良好信號(hào)處理和實(shí)用探傷功能及測(cè)量能力；通過(guò)LAN以太網(wǎng)接口可實(shí)現(xiàn)與計(jì)算機(jī)的實(shí)時(shí)通訊，大容量數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)，高速USB2.0接口和SD存儲(chǔ)卡將詳細(xì)的檢測(cè)數(shù)據(jù)輸出到計(jì)算機(jī)等，可滿足各種挑戰(zhàn)性的探傷應(yīng)用需求。

    奧林巴斯超聲波探傷儀操作前的調(diào)理：

    1、零點(diǎn)校正

    由于超聲波經(jīng)過(guò)保護(hù)膜、耦合劑(直探頭)或有機(jī)玻璃楔塊(斜探頭)進(jìn)入待測(cè)工件的，缺點(diǎn)定位時(shí)，需將這局部聲程移去，才干得到超聲波在工件中實(shí)踐聲程。

    零點(diǎn)通常是經(jīng)過(guò)已知聲程的試塊進(jìn)行調(diào)理，如CSK-IA試塊中的R100圓弧面(斜探頭)或深100mm的大平底(直探頭)。

    2、K值校正

    由于斜探頭探傷時(shí)不只要知道缺點(diǎn)的聲程，更要得出缺點(diǎn)的筆直和水平方位，因而斜探頭還要測(cè)定其K值(折射角)才干地對(duì)缺點(diǎn)進(jìn)行定位。

    K值通常是經(jīng)過(guò)對(duì)具有已知深度孔的試塊來(lái)調(diào)理，如用CSK-IA試塊50或1.5的孔。

    3、定量校正

    定量調(diào)理通常選用AVG(直探頭)或DAC(斜探頭)。